Il microscopio elettronico a scansione ZEISS EVO MA 10 (Scanning Electron Microscope - SEM), a differenza dei normali microscopi, sfrutta un fascio di elettroni per ottenere informazioni e immagini dettagliate della superficie di un campione (alla scala di pochi micron). Lo strumento possiede un sistema integrato di spettrometria a dispersione di energia (EDS) e un detector per la catodoluminescenza (SEM-CL) che permettono di caratterizzare la composizione chimica e la struttura di un campione di roccia, entrambi con risoluzioni spaziali molto elevate. Il laboratorio si trova presso la Sezione di Pisa.
Il microscopio elettronico a scansione ZEISS EVO MA 10
- Dettagli
- Scritto da Marco Cirilli
